Caracteristicas de la edad de los polimeros y silicios
Estructura cristalina del silicio Abrir en otra ventana3.2. Aparatos de pruebaLa medición de la resistividad se realizó con varios instrumentos: Una configuración de dos sondas (TPX-200 C) y un electrómetro Keithley 6517b conectado a un dispositivo de prueba Keithley 8009.3.2.1. 3.2.1. Método de dos sondas (TPX-200 C) El TPX-200 C es un accesorio de dos … Leer más