Microscopía electrónica de polímeros
El microscopio electrónico de barrido (SEM) utiliza electrones en lugar de luz para formar una imagen de alta resolución. Desde su desarrollo a principios de los años 50, los microscopios electrónicos de barrido han desarrollado nuevas áreas de estudio en las comunidades médica y de ciencias físicas. La principal ventaja del MEB en comparación con el microscopio óptico convencional es la resolución mucho mayor, por lo que las muestras pueden ampliarse a niveles mucho más altos. Como el MEB utiliza sensores de electrones en lugar de lentes, el operador tiene mucho más control sobre el grado de ampliación.
El MEB es una de las técnicas más potentes para examinar las propiedades superficiales y la morfología de los polímeros y los plásticos. La técnica SEM es una herramienta clave en el análisis de fallos de los plásticos, ya que puede proporcionar información precisa sobre el inicio y la propagación de grietas, así como buscar la contaminación por partículas y polvo.
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Análisis Sem de polímeros
El primer paso de una evaluación científica es observar a fondo la forma del material. Para ello, disponemos de una lupa o un microscopio óptico. Pero, mientras se utilice la luz, no podemos ver nada más pequeño que la longitud de onda de la luz y, por tanto, observar una nanoestructura es extremadamente difícil.
El microscopio electrónico de barrido (SEM) que se presenta aquí utiliza un haz de electrones cuya longitud de onda es más corta que la de la luz y, por tanto, es posible observar una estructura de hasta varios nm de escala.
El microscopio electrónico de barrido, que se utiliza en diversos campos como la medicina, la biología, los metales, los semiconductores y la cerámica, está ampliando sus fronteras de aplicación. Con la combinación de abundantes accesorios y dispositivos, su capacidad se está ampliando. El microscopio electrónico de barrido está considerado como una de las herramientas más potentes que se utilizan en los institutos de I+D y en los centros de inspección de control de calidad de todo el mundo.
El microscopio electrónico de barrido (en adelante, “SEM”) permite observar con claridad estructuras superficiales muy pequeñas, lo que no es posible con un microscopio óptico (en adelante, “OM”). Además, como puede proporcionar imágenes con mayor profundidad focal, permite observar imágenes tridimensionales, con un sentido similar al que se tiene cuando se observa una sustancia a simple vista, ampliando la superficie del espécimen que tiene una estructura rugosa.
Estructura de los polímeros y su detección mediante técnicas de microscopía
El microscopio electrónico de barrido (SEM) es una técnica de imagen muy útil que utiliza un haz de electrones para adquirir imágenes de gran aumento de las muestras. Muy similar al microscopio electrónico de transmisión (TEM), el SEM mapea los electrones reflejados y permite obtener imágenes de muestras gruesas (~mm), mientras que el TEM requiere muestras extremadamente finas para la obtención de imágenes; sin embargo, el SEM tiene menores aumentos. Aunque tanto el MEB como el MET utilizan un haz de electrones, la imagen se forma de forma muy diferente y los usuarios deben ser conscientes de cuándo es ventajoso cada microscopio.
Todos los microscopios sirven para ampliar el tamaño de un objeto y permiten ver regiones más pequeñas dentro de la muestra. Los microscopios forman imágenes ópticas y, aunque instrumentos como el MEB tienen aumentos extremadamente altos, la física de la formación de la imagen es muy básica. La lente de aumento más sencilla puede verse en la figura \N(\PageIndex{1}\N). La fórmula del aumento se muestra en \ref{1}, donde M es el aumento, f es la distancia focal, u es la distancia entre el objeto y la lente, y v es la distancia de la lente a la imagen.
Polímero Tem
ResumenEl microscopio electrónico de barrido (SEM) es una herramienta versátil para la caracterización de polímeros. La amplia variedad disponible hoy en día, como el MEB convencional (CSEM), el MEB de presión variable (VPSEM) y el MEB ambiental (ESEM), permiten diferentes técnicas de investigación para el análisis. En este artículo se discuten modos especiales de actuación. Se trata del modo de baja tensión del CSEM para la caracterización de superficies sin preparación, el modo de bajo vacío del ESEM que utiliza un gas de imagen para la compensación de carga en muestras no conductoras y el modo ESEM que permite la investigación de muestras húmedas. Estos modos no sólo facilitan la caracterización adecuada de muestras de polímeros convencionales, por ejemplo, para la fractografía, sino que incluso abren el campo a nuevas investigaciones in situ, en las que el cambio de la muestra debido, por ejemplo, a una influencia mecánica, puede visualizarse con resolución temporal.